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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

上海百賀儀器科技有限公司


經(jīng)營模式:其他

商鋪產(chǎn)品:359條

所在地區(qū):

  • 日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

    詳細(xì)摘要: 日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700是一款200kV的場發(fā)射球差校正掃描透射電鏡,相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術(shù),大大減小了透鏡球...

    產(chǎn)品型號:HD-2700所在地:更新時間:2023-04-22 在線留言

  • 日立場發(fā)射透射電子顯微鏡HF-3300

    詳細(xì)摘要: 日立場發(fā)射透射電子顯微鏡HF-3300是一款300kV的冷場發(fā)射透射電鏡,日立公司久負(fù)盛名的冷場發(fā)射電子槍和300kV高壓系統(tǒng)相結(jié)合保證了HF-3300具有超高...

    產(chǎn)品型號:HF-3300所在地:更新時間:2023-04-22 在線留言

  • 日立原位環(huán)境透射電子顯微鏡H-9500

    詳細(xì)摘要: 日立原位環(huán)境透射電子顯微鏡H-9500是一款300kV原位環(huán)境透射電鏡,其的特點是可以進(jìn)行原位實時觀察,相比于普通的透射電鏡,H-9500可以實現(xiàn)樣品在不同條件...

    產(chǎn)品型號:H-9500所在地:更新時間:2023-04-21 在線留言

  • 日本電子掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: 日本電子掃描電子顯微鏡JSM-6510A/JSM-6510LA型與日本電子公司的元素分析儀(EDS),統(tǒng)合于一體。

    產(chǎn)品型號:JSM-6510A/JSM-6510LA所在地:更新時間:2023-04-21 在線留言

  • 日本電子掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: JSM-6610A/JSM-6610LA分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析儀(EDS)組合于一體。

    產(chǎn)品型號:JSM-6610A/JSM-6610LA所在地:更新時間:2023-04-20 在線留言

  • JEOL可移動式掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺在任何地方都可以使用的高性能可移動式掃描電子顯微鏡。

    產(chǎn)品型號:JCM-5700所在地:更新時間:2023-04-20 在線留言

  • 日本電子掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: 掃描電子顯微鏡JASM-6200(ASEM)是和在其上方設(shè)置的光學(xué)顯微鏡構(gòu)成,能夠在大氣壓下觀察樣品。

    產(chǎn)品型號:JASM-6200所在地:更新時間:2023-04-19 在線留言

  • 透射電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: 透射電子顯微鏡JEM-1400是一款擁有成像和分析能力一體的高性能,高對比度,操作簡便的120KV透射電子顯微鏡。

    產(chǎn)品型號:JEM-1400/1011所在地:更新時間:2023-04-19 在線留言

  • 冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: 冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7500F是一款功能強大,操作簡便,節(jié)約能源的分析型場發(fā)射掃描電子顯微鏡。

    產(chǎn)品型號:JSM-7500F所在地:更新時間:2023-04-18 在線留言

  • 掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: 掃描電子顯微鏡JSM-6701F是一臺場發(fā)射掃描電子顯微鏡,采用冷陰極場發(fā)射槍、高真空和精密的數(shù)字技術(shù),可進(jìn)行顯微結(jié)構(gòu)的高分辨率、高質(zhì)量成像。

    產(chǎn)品型號:JSM-6701F所在地:更新時間:2023-04-18 在線留言

  • 日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7600F是兼顧冷場的高分辨率和熱場大束流為一體的熱場發(fā)射掃描電鏡。

    產(chǎn)品型號:JSM-7600F所在地:更新時間:2023-04-17 在線留言

  • 場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: Inspect F50 場發(fā)射掃描電子顯微鏡系統(tǒng)操作和維護(hù)方便, 同時可安裝各種掃描電鏡的附件。

    產(chǎn)品型號:Inspect F50所在地:更新時間:2023-04-17 在線留言

  • FEI掃描電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: FEI掃描電子顯微鏡基于Windows XP的圖形用戶界面, 簡單易用。

    產(chǎn)品型號:Inspect S50所在地:更新時間:2023-04-17 在線留言

  • FEI 掃描電子顯微鏡Teneo

    詳細(xì)摘要: FEI 掃描電子顯微鏡Teneo可為金屬研究人員、學(xué)術(shù)和工業(yè)研究機構(gòu)提供超高分辨率成像和通量分析性能.

    產(chǎn)品型號:Teneo所在地:更新時間:2023-04-17 在線留言

  • JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

    詳細(xì)摘要: JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)...

    產(chǎn)品型號:JEM-F200所在地:更新時間:2023-04-15 在線留言

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